Rohde & Schwarz 舉辦 RF Testing Innovations Forum 2026，協助設計工程師提升射頻專業能力
前言：
隨著衛星通訊與國防系統的快速發展，射頻測試變得日益關鍵且複雜。Rohde & Schwarz 將於2026年5月20日舉辦第二屆線上 RF Testing Innovations Forum，邀請工程師與專家分享因應當前高難度應用的實務解決方案。
Caption: 在 RF Testing Innovations Forum 中，與會者可了解當今最具挑戰性的射頻應用之實務解決方案。
於線上舉辦的 RF Testing Innovations Forum 2026，將由 Rohde & Schwarz、Dassault
Systèmes、FormFactor 與 Focus Microwaves 的專家分享當前射頻測試領域的關鍵挑戰。議程涵蓋多項主題，包括用於主動元件特性分析的殘餘量測，以及跨不同頻率的絕對相位驗證。
加速航太與國防射頻元件上市時程
Rohde & Schwarz 射頻與微波元件市場區隔經理 Markus Loerner 將以「航太與國防專用元件的商業化」為題發表主題演講。他將說明隨著衛星通訊與國防應用的成長，對射頻系統的需求持續增加，進而推動專用射頻元件的需求。同時也將比較不同射頻子系統並導出具體測試需求，以簡化流程並加速產品上市時程。
絕對相位與校準的重要性
許多設計工程師往往忽略在寬頻範圍內進行絕對相位量測的重要性。本場報告將概述相位校準方法，深入探討梳狀訊號產生器及其可追溯性，並透過案例說明其應用，包括時域轉換、頻率轉換器驗證以及向量網路分析儀（VNA）的相關考量。
次太赫茲晶圓級測試方法與最佳實務
隨著多Gb數位通訊系統向更高頻率發展，測試工程師需突破晶圓級S參數量測的限制，以精確建模並表徵元件。在德國德勒斯登的 FormFactor 實驗室現場展示中，將介紹如何使用配備最高170 GHz頻率擴展模組的 R&S ZNA，實現D頻段晶圓級S參數量測的高精度、穩定性與重複性，並說明晶圓測試環境中的關鍵量測決策。
雜訊參數驗證技術
最後一場將聚焦於最高67 GHz射頻電路的雜訊驗證。隨著低雜訊放大器（LNA）性能需求提升，準確且可靠的雜訊量測至關重要。這一趨勢受到LEO衛星通訊、遙測及量子運算等新興應用的推動。由於LNA通常為接收器的第一級，其雜訊特性主導整體系統的雜訊指數與靈敏度。本報告將介紹雜訊量測的基本原理，以及透過冷源法進行雜訊參數擷取的方法。量測將使用配備雜訊指數測試功能的最新 R&S ZNA 向量網路分析儀完成。
本次會議免費參加，但需事先報名。完整議程、講者資訊與報名入口請參閱：https://www.rohde-schwarz.com/rftif
關於Rohde & Schwarz
Rohde & Schwarz業務涵蓋測試測量、技術系統、網路與網路安全，致力於打造一個更加安全、互聯的世界。
成立90 年來，Rohde & Schwarz作為全球科技集團，通過發展尖端技術，不斷突破技術界限。公司領先的產品和解決方案賦能眾多行業客戶，助其獲得數位技術領導力。Rohde & Schwarz總部位於德國慕尼克，作為一家私有企業，公司在全球範圍內獨立、長期、可持續地開展業務。Rohde & Schwarz 在 2024/2025 會計年度（7月至次年 6 月）創造了 31.6 億歐元的淨營收。截至 2025 年 6 月 30 日，Rohde & Schwarz 在全球擁有超過 15,000 名員工。
R&S®是Rohde & Schwarz公司的注冊商標。
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