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愛德萬測試宣布擴展SiConic™生態系至DFT工程環境加速可直接導入量產的測試開發

本文作者：愛德萬測試點擊： 2026-07-29 14:35

前言：

統一的工作台測試環境，協助 DFT 工程師以相容 V93000 的工作流程執行、除錯及驗證測試內容

半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 今日隆重宣布，將其SiConic™生態系擴展至全新的可測性設計 (Design-for-Test，簡稱DFT) 工程環境。此新環境具備全面的工作台級 (bench-level) DFT執行與除錯功能，使DFT工程師能於部署至製造階段前，在符合量產規格的工作流程中開發、驗證並最佳化測試內容。

隨著先進製程系統單晶片 (SoC)、AI加速器和小晶片 (chiplet) 架構持續發展，測試向量 (pattern) 數量跟著增加，DFT方法論亦愈來愈複雜，連帶使半導體元件的複雜度與日俱增。因此工程團隊面臨了巨大壓力，除了須兼顧下游製造測試的可靠性，同時還要加快速度，盡早交付已就緒的量產測試內容。

基於SiConic平台打造的DFT工程環境整合全新SiConic D200數位元件、SiConic Explorer、SiConic Script和SiConic Link，為工作台上的DFT向量執行、除錯、自動化與驗證提供了統一的工作流程。工程師可採用與愛德萬測試V93000自動測試平台 (ATE) 相同的檔案格式、語義及執行動作，來生成、執行、迭代及驗證DFT內容。

過去，DFT工程師往往依賴與量產測試系統關聯性有限的自建工作台環境，或是必須仰賴存取量產ATE資源才能進行驗證。這些做法不僅拖慢開發週期、形成組織內部的資源瓶頸，更會提高測試內容移轉至量產階段時的風險。

透過在工作台上提供相容於V93000的環境，SiConic讓DFT工程師得以獨立作業，同時維持與下游量產測試工作流程的一致性。如此一來，既促使迭代速度加快、DFT與測試工程團隊之間的協作更順暢，也可降低對ATE機台可用性的依賴、提升測試內容導入量產時的成功率與信心。

愛德萬測試技術長暨測試系統事業群 (Test System Business Group) 負責人Juergen Serrer指出：「隨著複雜的數位架構不斷突破規模極限，如今DFT開發的複雜程度已不能再被視為設計流程末端可以附帶完成的工作。透過將實際的ATE環境延伸至工作台，SiConic讓DFT團隊能夠獨立驗證DFT架構與時序。根據需要，設計與測試工程師可與DFT工程師在SiConic的統一環境中協作，共同加速產品量產導入。」

統一的 DFT 開發與除錯環境

在DFT工程環境中，SiConic Explorer的軟體定義工作流程提供以DFT為中心的用戶介面，用於向量的執行、除錯和結果的可視化；而SiConic Script則能實現DFT工作流程的自動化與腳本編寫，讓工程師建立可重複的除錯、參數掃描 (sweep) 及驗證流程。這些工具相輔相成，有助於簡化開發流程，並提升各工程團隊的生產力。

從硬體角度來看，此解決方案支援將已驗證的內容無縫傳輸至V93000平台，有助於減少重工並提升量產的首次通過率。其中，全新SiConic D200數位元件是核心執行元件，提供符合量產標準的數位執行能力，最高資料傳輸速率可達200 Mbps，並支援低抖動 (low-jitter) 時脈源。

這套DFT工程解決方案，進一步擴展了誕生於2025年初之SiConic生態系的應用範圍，為矽晶驗證與工作台工程提供統一、自動化且具擴充性的環境。隨著這項最新功能的加入，SiConic現已支援包括設計驗證、測試工程與DFT工程等多個使用者群體，同時維持與愛德萬測試量產測試平台的緊密整合。這些解決方案共同打造出連續的工作流程，不僅使測試內容能更早完成開發與驗證，更確保順利銜接至高量產製造階段。

關於愛德萬測試

愛德萬測試是全球領先的自動測試與量測設備製造商，其產品廣泛應用於半導體元件的設計與生產，涵蓋高效能運算（HPC）、人工智慧（AI）、車用電子、工業及消費性應用等領域。愛德萬測試於 1954 年創立於東京，是一家足跡遍布全球的國際企業，致力於實踐永續發展與企業社會責任。其領先業界的系統與產品已整合至全球最先進的半導體生產線中。公司提供涵蓋整個半導體價值鏈的廣泛測試解決方案，開發包括晶圓測試（Wafer Sort）、最終測試（Final Test）、設計驗證、矽元件驗證及系統級測試（SLT）等先進方案；同時也提供測試處理機（Handlers）、元件介面，以及光罩製造中不可或缺的掃描式電子顯微鏡（SEM）。此外，愛德萬測試亦提供旨在提升半導體良率的數據分析解決方案。

欲瞭解更多資訊請上愛德萬測試官網www.advantest.com

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