2026年6月15日--本周進行的2026年IEEE/JSAP超大規模積體電路(VLSI)技術與電路研討會上,imec攜手微影解決方案大廠ASML與晶圓代工大廠TSMC,共同發表一套創新、穩健且可擴充的12吋晶圓整合技術路徑,用於基於2D材料的n型與p型場效電晶體(FET)。這是首次展示搭配50奈米閘極間距(CPP)的微型化nFET(採用二硫化鉬作為通道材料)與pFET(二硫化鎢或二硒化鎢),並且取得良好的電流-電壓特性。這些成果象徵著2D材料電晶體從實驗室邁向晶圓廠的關鍵進展,預期用於超高度微縮化的邏輯元件,以及後段製程和晶背應用。
2D過渡金屬二硫族化物(即TMD,例如二硫化鉬、二硫化鎢與二硒化鎢)有望延伸並擴展邏輯微縮技術的發展藍圖。當這些材料取代矽材,並作為原子級超薄傳導通道進行元件整合時,能夠製出具備高性能的微縮化電晶體,對高度微縮的邏輯元件、後段製程與晶背應用來說具備發展潛力。其潛力歸功於這些材料的良好靜電通道控制能力,同時維持容許範圍內的載子遷移率,甚至實現高度微縮的閘極與通道長度。然而,這些材料在導入產業時一直面臨阻礙,原因在於缺乏一套12吋晶圓整合技術途徑,該途徑需要在與產業接軌的元件尺寸下,製造過渡金屬二硫族化物(TMD)nFET與pFET,同時還要比照在實驗室環境下持續累積大量的測試結果,維持一定的性能表現。
ASML、TSMC與imec現在發表了一套可擴充且與後段製程相容的12吋晶圓整合方法,用於基於過渡金屬二硫族化物(TMD)的nFET與pFET元件,其成果分為三點:(1)世界首創達到50奈米閘極間距(CPP)的微縮化nFET與pFET;(2)這兩種電晶體的極性在閘極電壓為零(Vg=0V)時,展現極低的關閉電流(Ioff);以及(3)搭配二硒化鎢通道的pFET性能表現已接近創下紀錄的實驗室元件水準。這套類似於CMOS的整合方法—在單片12吋晶圓上整合nFET與pFET,達到高達94%的可操作電晶體(即Imax/Imin >105),成功驗證其穩健性與穩定度。此次提出的製程流程可用於二硫化鉬、二硫化鎢和二硒化鎢以外的2D通道材料。
imec運算暨記憶體元件技術研發VP Gouri Sankar Kar表示:「基於2D過渡金屬二硫族化物(TMD)材料的電晶體一般是針對短通道進行最佳化。不過為了盡可能降低接觸電阻,他們通常具備較大的接點面積,因而阻礙微縮發展。我們首次實現了50奈米的閘極間距(CPP),該數值由閘極長度和源極/汲極接點長度而定;而此次成果也不影響2D材料nFET與pFET的性能。透過與ASML密切合作,採用經過最佳化的單次圖形化EUV微影技術是實現這次微縮化閘極間距(CPP)的成功關鍵。」
這些微縮化電晶體展現良好的電流-電壓特性,而且pFET性能幾乎與具備最高性能的實驗室元件相當,進而解決過渡金屬二硫族化物(TMD)電晶體長久以來的技術挑戰。此外,電性結果顯示,當閘極電壓(Vg)設為0V時,這兩種電晶體的極性皆處於關閉狀態。Gouri解釋:「之所以可以達到這樣理想的性能表現是因為運用了創新的『倒序』薄膜電晶體(TFT)製程流程。不同於傳統的2D材料電晶體,我們開發的nFET與pFET具備底層接點和交疊的沉積閘極。為了實現這點,過渡金屬二硫族化物(TMD)通道材料被轉移到經過預先圖形化且採用鎢(W)材填充的溝槽,作為接點。
聚焦這項研究成果的戰略重要性,TSMC副總暨技術長 曹敏博士表示:「我們的研究合作為推進半導體創新發展提供重要動力,我們聚焦為『從實驗室邁向晶圓廠』的技術轉變降低風險和加速進展,確保開創性發現—特別是創新的通道材料,能夠快速有效地整合到先進製造,最終提供頂尖的解決方案。」
ASML 歐洲技術開發中心Director Etienne De Poortere則表示:「2D過渡金屬二硫族化物(TMD)材料可望超越矽材,實現更小尺寸、更高性能的電晶體,不過目前採用12吋晶圓製程所展示的2D材料通道元件其實尺寸較大,也採用較舊的微影技術。多虧了EUV微影技術提供的更高解析度,我們成功製出通道長度短至28奈米的TMD電晶體,間距也與最先進的電晶體節點相容。」
圖1:(A)包含50奈米閘極間距(CPP)的二硫化鎢(WS2)元件之X軸切割高角度環形暗視野(HAADF)掃描傳輸電子顯微鏡(STEM)影像,經過閘極連接線蝕刻後,其接點長度為19奈米、寬度256奈米。以及(B)相應的能量色散X射線光譜儀(EDS)分析。
圖2:包含50奈米接點間距和(650奈米)鬆弛通道長度的二硫化鉬nFET與二硒化鎢pFET整合在同一片12吋晶圓上,展現符合常規的臨界電壓匹配。
比利時微電子研究中心(imec)簡介
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