Advantest 推出 SiConic Test Engineering： 統一且可擴展的桌上型除錯與驗證測試環境 擴展 SiConic 生態系，協助測試工程師涵蓋從結構測試啟動到 ATE 與 SLT 部署的整個開發流程
前言：
2025年5月8日--全球領先的半導體測試設備供應商愛德萬測試（東京證券交易所代碼：6857）今日正式推出 SiConic Test Engineering（TE），這是繼 2025 年 2 月首度推出 SiConic 家族後的最新成員。SiConic TE 提供測試工程師在可擴展的桌上型（bench）環境中，透過高速 I/O 介面進行結構與功能測試的啟動與驗證能力，使得驗證與除錯工作能提前進行，不需佔用寶貴的 ATE 測試系統資源。
SiConic Link 可透過 USB、PCIe、控制介面與 GPIO 等功能性介面靈活連接至標準評估板。這項功能是 SiConic TE 的基礎，使測試工程師能在 SiConic 的統一測試環境中，快速驗證與除錯設計驗證（DV）與可測試性設計（DFT）內容。
SiConic 延續 V93000 測試系統在透過 USB 或 PCIe 進行掃描測試的領先地位，統一的測試環境讓 DV 測試內容可以直接套用到測試工程中，免除了以往進行高階功能測試時需轉換格式與長時間除錯的流程。功能測試對於高品質驗證與測試至關重要，SiConic TE 也促進 DV、DFT 與測試工程部門在 bench 上的協作效率，提升整體生產力。
SiConic TE 結合 SiConic Link 硬體與 SmarTest 8 軟體平台，提供測試工程師在執行測試時可全面存取高速 I/O 連線，提升資料吞吐與追蹤能力。透過促進矽驗證（SV）、DV 與測試工程（TE）團隊之間更順暢的交接流程，SiConic TE 強化了跨部門的協作效率。
透過統一的測試環境與共用的生態系，SiConic TE 改善 bench、ATE 與 SLT 系統間的測試一致性。該工具可讓除錯與測試啟動流程從 ATE 移至桌上環境，釋放高成本測試機台的資源，並提升測試流程的可擴展性。此外，與領先 EDA 夥伴的深度整合，也促成 DV 與 DFT 團隊的跨部門合作，優化測試內容開發流程，加快首次矽驗證成功的速度。
愛德萬測試 SoC 測試事業群技術長暨執行副總裁 Juergen Serrer 表示：「透過 SiConic Test Engineering，我們進一步實現 SiConic 的願景，讓測試工程師在統一的桌上型環境中發揮最大效能。藉由將測試啟動與驗證作業移至可擴展的桌上平台，並透過一個可延伸的生態系統讓 DV、DFT、SV 與 TE 保持一致，我們正協助客戶更快完成驗證、更有效協同合作、並充分發揮工程資源的價值。」
TechInsights 副董事長 G. Dan Hutcheson 表示：「提升研發階段的生產力對設計工程師至關重要。Advantest 所提出的自動化矽驗證流程，讓測試簽核與工程測試可同時進行，並使用共用的測試數據，有助於更快速導入 SoC 設計，加快獲利速度，同時確保設計到系統之間的品質。」
業界支持
愛德萬測試 在開發 SiConic TE 過程中，與多家頂尖客戶與 EDA 合作夥伴密切合作，確保其能順利整合至現有的設計與驗證流程中。
西門子數位化工業軟體 (Siemens Digital Industries Software) 旗下數位設計平台資深副總裁暨總經理 Ankur Gupta 表示：「西門子EDA與愛德萬測試在多項 DFT 技術上已有長期合作，包括 Tessent Streaming Scan Network（SSN）與 IJTAG。我們在 SiConic 與 Tessent In-System Test 的合作，更進一步加強這段長期的夥伴關係，幫助我們的用戶提升上市速度與生產力。」
新思科技(Synopsys )產品管理資深副總裁 Tom De Schutter 表示：「隨著晶片規模與複雜度日益提升，驗證週期需要更早展開，才能交付更高品質的矽晶。Synopsys 與 Advantest 的合作，讓用戶能透過 SiConic 平台搭配我們的 HAPS-100 原型平台、VC Portable Stimulus、TestMAX SF/SEQ 及 SLM HSAT IP 解決方案，來開發高速介面驅動器、驗證 SERDES、執行功能性與結構性測試。」
VOICE 2025 開發者大會
欲進一步了解 SiConic 解決方案，歡迎參加愛德萬測試每年一度的 VOICE 開發者大會，將於 2025 年 5 月 12 至 14 日在美國德州奧斯汀舉行。
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 為自動化測試與量測設備領導製造 商，旗下產品應用於各類 半導體設計和生產流程，領域涵蓋 5G 通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工 智慧 (AI) 和機器學習在 內之高效能運算 (HPC) 等，其領先業界的系統和產品獲全球客戶信賴，整合至世界各 地最先進的半導體生 產線。為了因應接踵而來的測試挑戰和不斷推陳出新的應用，愛德萬測試也積極投入研 發，不僅針對晶圓 測試和最終測試開發先進測試介面解決方案，也生產光罩製造過程中最重要的掃描式電子 顯微鏡 (SEM)， 並提供系統級測試解決方案和其他測試相關周邊設備。1954 年創立於日本東京的愛德萬測試， 已成為在世 界各地都有據點的全球化企業，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。 更多資訊 請上：www.advantest.com
