2017年12月12日--半導體測試設備領導廠商愛德萬測試(Advantest)與中國江陰市半導體中段製程(MEOL)測試服務領導者中芯長電半導體有限公司(中芯長電)正式簽訂大量採購合約。據此合約，中芯長電將自愛德萬測試購入大量的記憶體測試系統T5830，用於測試串列週邊介面(SPI) NOR快閃記憶體裝置，而在有機發光二極體(OLED)與觸控面板感應晶片(TDDI)迅速成長的帶動下，SPI NOR快閃記憶體裝置需求持續走強。
中芯長電半導體執行長崔東表示：「中芯長電對於與愛德萬測試簽訂策略性合約感到非常高興，並期許在業務範圍拓及持續成長的記憶體市場以及研發更複雜的3D IC之際，持續維持雙方公司之間的合作關係。」
中芯長電過去就曾安裝愛德萬測試測試系統V9300以測試高速數位與精度類比IC。而此次是中芯長電首次向愛德萬測試購買記憶體測試系統。
愛德萬測試總裁兼執行長Yoshiaki Yoshida表示：「中國的人口與人均收入不斷增加，帶動NOR快閃記憶體產業成長。企業基礎建設發展日趨成熟以及包含中芯長電在內的產業主要參與者規模不斷擴大，成為帶動市場成長的助力。」
於2016年推出的T5830記憶體測試機功能一應俱全，能為廣泛用於行動電子裝置的各式快閃記憶體低，提供最佳化的低成本大量測試能力。T5830系統能執行晶圓測試並為低腳位到高腳位IC提供最終測試，可為客戶創造可觀的投資回報(ROI)並降低他們的財務風險。
T5830系統採用愛德萬測試獨特的Tester-per-Site™架構，因此每個Site都能獨立運作，有助加快測試時間並降低測試成本。此系統亦包含具可擴展性的內建大電流可編程電源(PPS)。
T5830系統資料傳輸速度最快可達800 Mbps，並能在配置4個數位腳位情況下，同時測試多達2,304個裝置。除了測試NOR快閃裝置，T5830系統也支援NAND快閃裝置、智慧卡、單列直插式記憶體(SIM)、電子抹除式可複寫唯讀記憶體(EEPROM)以及其他嵌入式快閃記憶體。
T5830系統適用生產及工程開發，可用於認證測試或大量生產，且可完全相容於T5800系列產品，強化其可靠性以及模組可升級性。
愛德萬測試將於12月13日至15日在東京舉辦的SEMICON Japan 2017國際半導體展，展示T5830記憶體測試機在內的領先測試解決方案。
關於中芯長電
位於江蘇省江陰市的中芯長電是由中芯國際攜手長電科技於2014年8月合資成立，後又獲得中國集成電路產業投資基金與高通(Qualcomm)旗下子公司Qualcomm Global Trading Pte Ltd.的投資。從先進12吋凸塊與晶圓測試起家，進一步提供全球頂尖的中段矽片製造與測試服務並拓展先進3D IC業務。中芯長電致力提供便捷的一站式服務，供應中國海內外客戶優質、高效能的晶片，並助客戶強化自身的全球競爭力。更多相關資訊，請參見www.SJSEMI.com
位於江蘇省江陰市的中芯長電是由中芯國際攜手長電科技於2014年8月合資成立，後又獲得中國集成電路產業投資基金與高通(Qualcomm)旗下子公司Qualcomm Global Trading Pte Ltd.的投資。從先進12吋凸塊與晶圓測試起家，進一步提供全球頂尖的中段矽片製造與測試服務並拓展先進3D IC業務。中芯長電致力提供便捷的一站式服務，供應中國海內外客戶優質、高效能的晶片，並助客戶強化自身的全球競爭力。更多相關資訊，請參見www.SJSEMI.com
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
