愛德萬測試發表次世代M5241記憶體分類機 支援高效AI記憶元件
前言：
新平台具備高精準溫控、最大化稼動率並強化維護性
滿足先進記憶體測試需求
半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 今日隆重宣布推出 M5241 記憶體分類機 (Memory Handler)，這款次世代分類機專為新興高效能記憶體元件設計，特別是用於人工智慧 (AI) 應用的產品，滿足其在效能、自動化與成本效率上的需求。新產品預計於2026年第二季開始出貨。
作為愛德萬測試記憶體測試機台策略的下一代產品，M5241採用垂直對接設計，可無縫整合至該公司最新的T5801超高速DRAM測試機，同時也相容於現有之T5833、T5503HS2及T5835測試機，使客戶能充分發揮既有設備的價值。M5241採用全新溫度控制架構，搭配可選配的主動式熱控技術，為先進記憶體IC (包含具高自發熱特性者) 提供精準穩定的測試環境，直接提升客戶裝置的良率與可靠性。
愛德萬測試執行董事山下和之指出：「隨著記憶體架構日益複雜且功率密度不斷提升，穩定的溫度管理與高運作時間已成為量產測試的關鍵要素。M5241從零開始設計，旨在支援AI時代的記憶體元件，同時實現自動化、預測性維護及營運效率提升，以契合客戶打造智慧工廠的目標。」
M5241的開發是為因應AI與資料中心應用中，對高頻寬和大容量記憶體急速成長的需求。這款新型分類機不僅強化了愛德萬測試在市場上的領導地位，同時滿足客戶對更高吞吐量、更低成本及更佳營運透明度的期待。
這款新型分類機已於愛德萬測試內部使用實際記憶體 IC與T5801測試機通過評估，並於量產條件下完成驗證，目前已獲多家主流記憶體製造商青睞，著手規劃採用中。
主要特色與優勢
M5241分類機支援DDR5、次世代DRAM、NAND、AI記憶體及其他高密度記憶體。其具備高達512個平行測試站點，每小時最高吞吐量達46,000單位，並可適應標準溫度範圍-40°C至+125°C，或擴展溫度範圍-55°C至+150°C。此款新型分類機關鍵優勢如下：
• 高精準溫度控制：新型微型腔室搭配可選配的主動式熱控系統，即使在高自發熱負載下仍能維持元件溫度穩定，實現精準測試條件並提升良率。
• 透過卡料減少 (jam-reduction) 技術實現領先業界的高稼動率 (uptime)：結合自動回復功能與專利的裝置錯位檢測技術，顯著提升生產線的整體設備效率。
• 提升維護性並降低持有成本：自動原點搜尋功能及免螺絲一鍵更換套件特色大幅精簡維護作業，與先前工作流程相較僅需四分之一時間，從而減少停機與營運成本。
• 符合現代化晶圓廠的自動化需求：相容於標準廠內天車與機器人系統，並可選配HM360軟體，支援進階自動化、視覺化資料及預測性維護。
更多關於M5241分類機及愛德萬測試全產品線資訊，歡迎於2025年12月17至19日親臨東京國際展示場 (Tokyo Big Sight) SEMICON Japan展會愛德萬測試E4346攤位。
關於愛德萬測試
愛德萬測試於1954年創立於日本東京，為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI)、機器學習等高效能運算 (HPC)，其領先業界的系統和產品獲廣大客戶青睞整合至世界各地最先進的半導體生產線。公司亦持續投入研發，致力於解決新興測試挑戰，並開發晶圓分類與最終測試所需的高階測試介面解決方案；生產光罩製造所需的掃描式電子顯微鏡；同時提供系統層級測試解決方案及其他相關配件。愛德萬測試是一家全球化企業，足跡遍及世界各地，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。
欲瞭解更多資訊請上愛德萬測試官網www.advantest.com 。
