愛德萬測試推出 T2000 AiR2X 氣冷式 SoC與電源類比測試解決方案
前言：
新一代精巧型測試機，測試資源密度倍增，支援少量多樣化生產，兼容舊款無縫移轉
半導體測試設備大廠愛德萬測試近日宣布推出新一代氣冷式測試系統「T2000 AiR2X」，專為滿足評估及少量多樣的生產環境中，對於小型化、高成本效益測試機日益增長的需求而設。這款新系統不僅與既有的 T2000測試系統完全相容，更在維持低功耗與氣冷散熱的前提下，其測試資源較前一代氣冷系統T2000 AiR提升了一倍。
T2000 AiR2X的問世旨在回應市場的多重需求，一方面針對 T6500與 T7700等舊型系列即將終止支援的汰換對策；另一方面則是滿足業界對精巧型氣冷測試機持續存在的升級需求。有鑑於全球氣冷式 SoC 測試系統裝機量龐大，新推出的 T2000 AiR2X將有助於愛德萬測試在持續成長的市場中，進一步鞏固領先地位。
愛德萬測試 T2000產品部門主管足立敏明表示：「精巧的氣冷式 T2000 AiR2X與高密度、高針數的 V93000系統，共同建構了完整的 SoC 測試解決方案，從氣冷式應用一路延伸至大規模數位化裝置，皆能全面涵蓋。」
足立敏明強調，T2000 AiR2X能顯著提升部署效率，簡化老舊測試平台的移轉流程，並在相同占地面積下，使測試資源容量翻倍；而 V93000則提供先進大型 SoC所需的高效能。兩者相輔相成，從評估到量產階段，皆能有效降低 SoC的導入成本與環境影響，全面支援客戶創新。
在技術規格方面，T2000 AiR2X 支援高度彈性測試配置，可搭載多達 12個量測模組，功能涵蓋功能測試/掃描測試、高精密直流（DC）測試，以及最高可達 320V的車用裝置高壓 DC測試。該系統搭載獨特的多站點（Multisite）控制器功能，可大幅縮短量產測試時間。
T2000 AiR2X系統內建愛德萬T2000 RECT550效能板，靈活支援多種配置，並沿用 T2000的程式開發環境，提供統一的支援架構及可擴充模組選項。此外，透過導入快速開發套件（Rapid Development Kit, RDK），預期將大幅降低程式開發與除錯工作量，加快平台移轉與導入速度。
目前 T2000 AiR2X已展開初期裝置評估，確認其廣泛適用領域，包含工業級MCU、消費性ASIC、車用與行動裝置電池 IC以及電源類比應用。該系統預計於本月稍後正式上市供貨，協助客戶在快速演進的半導體市場中維持競爭優勢。
關於愛德萬測試
愛德萬測試於1954年創立於日本東京，為自動化測試與量測設備領導製造商，旗下產品應用於各類半導體設計和生產流程，領域涵蓋5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車，以及包括人工智慧 (AI)、機器學習等高效能運算 (HPC)，其領先業界的系統和產品獲廣大客戶青睞整合至世界各地最先進的半導體生產線。公司亦持續投入研發，致力於解決新興測試挑戰，並開發晶圓分類與最終測試所需的高階測試介面解決方案；生產光罩製造所需的掃描式電子顯微鏡；同時提供系統層級測試解決方案及其他相關配件。愛德萬測試是一家全球化企業，足跡遍及世界各地，同時秉持對國際社會的承諾，致力於實踐永續願景和社會責任。
欲瞭解更多資訊請上愛德萬測試官網www.advantest.com 。
