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論元器件測試的品質 (II)

本文作者:羅徹斯特電子       點擊: 2021-12-15 11:21
前言:
 
“故障覆蓋率和殘餘缺陷率對系統可測性有何影響?”
 
當元件的殘餘缺陷率已知時,可確定殘餘缺陷率對電路板組裝後測試以及系統測試良率的影響。此時計算的是簡單的獨立事件概率。所得結果可用於確定組裝好的 PCB 在不需要維修的情況下正常工作的概率 (PCB 機械和焊接缺陷不計在內 ),計算方法如下: 
P = (1-D)N
其中:D 是小數形式的殘餘缺陷率 ( 由前文可得 ) N 是電路板上的器件總數。

圖:組裝好的 PCB 正常工作的概率 ( 基於殘餘缺陷率和電路板上的元件數量計算 )。

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