愛德萬測試發表TAS7400TS高頻率解析度選項
前言：
最新解決方案能進行Beyond 5G下一世代通訊技術趨勢之材料特性量測
經濟、省空間、操作簡便
2021年9月30日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 發表旗下TAS7400TS太赫茲光學取樣分析系統的最新高頻率解析度選項。新選項具備優異的成本效益又操作簡便，為無線電波吸收與基板材料之高頻特性評估提供了極具開創性的測量方法。這些材料都是Beyond 5G / 6G次世代通訊科技、還有應用於先進駕駛輔助系統 (ADAS) 之毫米波雷達科技所不可或缺的要件。
向量網路分析儀 (VNA) 很早便被廣泛應用於評估毫米波和高頻領域各類材料之傳輸特性 (穿透率、反射率) 與複雜的介電常數，不過近年來，在更廣頻寬進行這些特性評估的需求更為重要，因此VNA花費在測定與校準每一個頻段的時間與工夫逐漸成為需要檢討的課題。
愛德萬測試的太赫茲光學取樣系統，透過對廣泛頻段進行批次測量以及脈衝電磁波的運用，能解決上述問題。現在，只要一套小巧的光學取樣系統 (測量環境) 就能執行測量任務，既經濟又省空間；還有映射量測選項，能進行材料表面頻率特性的分析。不僅如此，TAS7400TS最新選項的頻率解析度與掃描速度是之前產品的5倍，也使其成為評估新材料之高頻特性最理想的解決方案。
該解決方案將於11月8日至10日於日本分析科學儀器展（JASIS）、11月24日至26日於日本2021微波工作坊暨展覽會（MWE 2021）展出。
【主要規格】
頻率範圍：0.03~ 2THz (Bandwidth (SNR=1))
頻率解析度：380 MHz (先前產品：1.9 GHz)
掃描速度：40 ms / scan (先前產品：200 ms / scan)
量測項目： 穿透率、反射率、相位差、複雜的介電常數、散逸率 (tanδ)
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商，旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外，愛德萬測試亦投入研發，解決接踵而來的測試挑戰應用，並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年成立於東京的愛德萬測試，是在全世界都設有據點的國際企業，更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站：www.advantest.com。
