愛德萬測試發表最新模組強化T2000平台對智慧型手機D-PHY、C-PHY影像IC測試能力
前言：
多功能模組為D-PHY IC提供業界最快擷取速度
並針對先進C-PHY元件首創64接點測試解決方案
2020年12月9日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 隆重推出針對旗下T2000測試平台之最新高速CMOS影像擷取模組，允許同時測試64個同時擁有D-PHY與C-PHY傳輸介面之智慧型手機元件。最新T2000 4.8-Gbps CMOS影像擷取模組，又稱作4.8GICAP，這樣的設計能有效率地傳輸來自CMOS影像感測器 (CIS)資料到T2000高性能影像處理器引擎 (IPE)，也是首款量產的測試解決方案，可為C-PHY v1.2版元件提供最高3.5 Gsps的擷取速度；並為D-PHY v2.1版元件提供業界最快4.8 Gbps的擷取速度。
據估計，現今生產的CIS元件有75%都用於智慧型手機相機。愛德萬測試研究指出，鑒於最新一代的智慧型手機都主打多鏡頭，預料CIS產量在未來4年將成長約41%。再加上最新CIS元件具備有約1億畫素的超高解析度，這些因素再再推升業者對於測試解決方案的需求，不僅要能處理空前的資料量，還要能高速運作，才能以更高的成本效益服務快速擴張的智慧型手機市場。
4.8GICAP模組搭配愛德萬測試第3代IPE，透過雙記憶體庫機制能在擷取影像資料的同時傳輸資料給IPE，這將大幅縮短測試時間。
這款模組設計安裝於T2000 ISS測試機，具備完整相容的測試程式、探針機、光源機和裝置介面。能同時測試64個擁有MIPI標準D-PHY與最新C-PHY傳輸介面之元件，透過高速資料傳輸線提供業界領先的性能。
功能多元的T2000測試平台幫助客戶能以最低資本支出，快速因應變化萬千的市場需求，同時又縮短新設計的開發時程。其模組化結構最適合因應新世代元件的需求。
愛德萬測試T2000事業單位副總Toshiaki Adachi表示：「愛德萬測試創造出能處理更大量資料傳輸和更快速之CIS元件的量測環境，協助智慧型手機相機市場提升成本效益。」
4.8GICAP模組已開始出貨給多家重要客戶。
更多T2000平台相關資訊，請上：https://www.advantest.com/products/ic-test-systems/t2000。
關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商，旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外，愛德萬測試亦投入研發，解決接踵而來的測試挑戰應用，並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試，是在全世界都設有據點的國際企業，更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站：www.advantest.com。
