安森美半導體的矽光電倍增器(SiPM) 直接飛行時間(dToF) 光學雷達平台為工業測距應用提供現成的設計
前言：
該平台展示使用安森美半導體矽光電倍增器(SiPM)感測器專知的直接飛行時間光學雷達
2020年11月10日--推動高能效創新的安森美半導體(ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ON) ，推出了由該公司矽光電倍增器(SiPM)技術實現的單點直接飛行時間(dToF)的光學雷達方案。
光檢測和測距或光學雷達的應用在所有領域都在增長，包括機器人和強制要求毫米範圍精準度的工業接近感測。它通常基於dToF方法，測量通常在近紅外(NIR)波長範圍內的一個光脈衝往返於一個物體所需的時間。
儘管原理很簡單，但其應用可能會帶來挑戰性，例如周圍太陽光較強等環境因素。 為了準確確定範圍，接收器需要捕獲盡可能多的訊號。就響應時間和靈敏度而言，傳統的光電二極體在這方面會受到影響。安森美半導體開發的矽光電倍增器(SiPM)感測器提供更快的響應時間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平台使用安森美半導體第二代SiPM感測器RB系列，在紅色和NIR範圍都帶來更高的性能。
安森美半導體開發的SiPM dToF 光學雷達平台提供低成本、單點光學雷達的完整方案，原始設備製造商(OEM)可靈活調整並投入生產，以創造工業測距應用。 它包括NIR激光二極體、SiPM感測器和光學元件，以及將檢測到的訊號轉換為經過時間，以及將經過時間轉換為距離所需的數位處理。
為加快客戶的上市時間，安森美半導體提供該參考平台的所有設計數據，涵蓋原理圖、物料單(BoM)、gerber文件和PCB設計文件。 客戶還可以存取基於PC的圖形使用者介面(GUI)，提供隨時間變化的測量結果的圖形。產生的直方圖進一步證明該系統在測距、碰撞檢測和3D製圖等應用的能力。
安森美半導體物聯網主管Wiren Perera表示：「使用dToF 光學雷達進行測距，滿足了許多應用的關鍵需求，從自主導航到地圖繪製到監控。 但是，開發以dToF 光學雷達為基礎的系統可能具有挑戰性。我司的這個平台顯然證實這領先技術的效用。有了經驗證的設計，客戶就能更快地進行概念驗證，並迅速將產品推向市場。」
SiPM dToF光學雷達平台可檢測10厘米至23米距離的物體。 使用提供的GUI提供開箱即用(out-of-the-box)的體驗，使工程師可以立即開始評估該技術。該設計已獲得美國食品和藥物管理局(FDA)一類認證，並符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11雷射安全標準。
更多資源及文檔：
SiPM dToF光學雷達平台登陸頁
SiPM dToF光學雷達平台產品頁(SECO-RANGEFINDER-GEVK)
RB系列SiPM
物聯網(IoT)方案
光學雷達方案
影片：什麼是工業測距？
介紹矽光電倍增器(SiPM) (應用注釋)
SiPM 用於直接ToF測距應用 (白皮書)
關於安森美半導體
安森美半導體(ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ON)致力於推動高效能電子的創新，使客戶能夠減少全球的能源使用。安森美半導體是基於半導體的解決方案之領導供應商，提供全面性的高效能電源管理、類比、感測器、邏輯、時序、連線、離散元件、系統單晶片(SoC)及客製化元件。安森美半導體的產品幫助工程師解決在汽車、通訊、運算、消費性電子、工業、醫療、航空及國防應用的獨特設計挑戰。安森美半導體擁有敏銳、可靠、世界一流的供應鏈及品質專案，及一套嚴謹的審查標準和道德規範計劃，在北美、歐洲和亞太地區的關鍵市場的營運網路更包括製造廠、銷售辦公室和設計中心。欲瞭解更多資訊請參閱：http://www.onsemi.com。
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