Tektronix 推出 S530 系列參數測試系統 搭配 KTE 7 軟體以支援寬頻帶間隙 (WBG) 製造
前言：
以 KTE 7 為基礎的新型 S530 平台可顯著提升量測效能並有效降低成本，有助於半導體製造商在高速成長的新興市場中占有一席之地
2020年10月7日--全球領先的測試與量測解決方案供應商 Tektronix 公司今天發布了新款 Keithley S530 系列參數測試系統，以及 KTE 7 軟體和其他增強功能。S530 平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力，同時有效地降低 CAPEX 投資，並顯著地提升每小時晶圓產量。總體擁有成本隨之降低後，將有助於製造商在競爭激烈的新市場中因應龐大的價格壓力。
奠基於新興寬頻帶間隙 (WBG) 技術的新型半導體產品 (如 GaN 和 SiC) 有望達成更快的切換速度、更寬的溫度範圍、更好的電源效率以及其他優勢。為了滿足這些產品的測試需求，以 KTE 7 為基礎的 S530 平台提供了實驗室等級的量測效能，以及最短的設定和測試時間。隨著新應用的出現和需求的變化，高達 1100V 的高速、全彈性的解決方案亦應運而生。這使晶片製造商能夠以最少的投資，在單一系統上利用最短的測試/設定時間，經濟高效地將其擴展至高速成長的電源和 WBG 裝置 (包括汽車市場) 中。
Keithley/Tektronix 副總裁兼總經理 Chris Bohn 表示：「類比和混合訊號半導體製造商在 5G 通訊、汽車、物聯網、醫療、綠色能源和其他市場中不斷面臨各種新型最終用途應用的旺盛需求。這個重要的測試平台更新有助於這些客戶能更快速、更具成本效益地將新產品推向市場，同時使他們能夠靈活地適應未來的新需求。」
S530 系列的創新功能可在廣泛的產品組合中顯著提升測試儀的利用率，並輕鬆遷移現有的測試軟體、探棒卡和其他產品，同時提供完整的資料關聯性、有效提升測試速度。S530-HV 機型能夠在任何針腳上測試高達 1100V 的電壓，與電源和 WBG 應用中的其他競爭系統相較，可將輸送量提高 50% 以上。晶片製造商可以使用單一系統測試多種產品組合，包括根據 IATF-16949 品質管理標準的汽車產品。客戶可在內部進行校驗以盡可能地降低停機時間，也可以透過 Tektronix 的服務機構完成校驗，享有全球高品質個人支援服務。
以 KTE7 為基礎的平台為半導體製造商提供了從傳統 S600 和 S400 系統的最簡單且最具成本效益的遷移途徑，不僅可保持完整的資料關聯性，且輸送量較 S600 更快 25%。
重大改進和業界首創的功能
● S530-HV 的選配測試頭讓操作員在從低壓 (<200V) 移動至高壓 (> 200V) 晶圓級測試時，不再需要耗費時間來變更儀器、探棒卡和電纜測試設定。測試頭使探棒卡與多家供應商的多種機型相容，可更快速地更換探棒卡並根據 ISO-17025 進行針腳校驗，同時保持向後相容性。這可有效地降低遷移成本並保護客戶投資，同時支援如汽車標準 IATF-16949 等的新要求。
● S530-HV 能夠在任何針腳上測試高達 1100V 的電壓，與電源和 WBG 應用中的競爭系統相較，可將輸送量提高 50% 以上。操作員可依任何順序將任何測試資源連接至任何測試針腳，以快速、輕鬆地支援生產要求，而無需重新配置或重新設定訊號路徑。
● KTE 軟體相容性顯著地簡化並加速了從舊系統 (例如 S600) 的遷移路徑，提供了完整的關聯性，且輸送量亦提升 25%。
● 內建的暫態過電壓/過電流保護可防止意外損壞探棒卡、針頭和儀器─這在高速 WBG 應用中尤為重要。
● 在系統校準期間，新型 5880-SRU 系統參考單元會自動切換所有直流和交流參考標準，無需手動連接、中斷和重新連接。這種完全自動化的過程有效地減少了系統停機時間，並減少了執行校驗時的支援成本，進而降低產品的擁有成本 (COO)。
供貨情況
S530 系列參數測試系統現已全球供貨。如需更多資訊，請造訪：https://tw.tek.com/keithley-semiconductor-parametric-test-systems
關於 Tektronix
Tektronix, Inc. 的總部設在美國俄勒岡州畢佛頓市，為全球的客戶提供創新、精確和易於操作的測試、量測和監控解決方案，以解決問題、提供深入的見解，並在全球各地促進各種研發探索。70 年來，Tektronix 始終在數位時代中扮演著重要的角色。如需深入瞭解有關我們產品和解決方案的資訊，請造訪 Tek.com。
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