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愛德萬測試即將舉辦自家虛擬商展向亞洲顧客展示最新測試解決方案

本文作者:愛德萬       點擊: 2020-07-03 10:50
前言:
虛擬展示加上即時串流發表 與用戶時刻互動零距離

2020年6月24日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 謹訂於7月10日 (星期五) 台灣時間上午10:00~下午2:00舉辦自家虛擬商展,帶來最新IC測試解決方案,展現科技領導力,並期盼藉由這次機會,在業界諸多大型展會因為擔心COVID-19 (新冠肺炎) 疫情或旅遊限制而被迫取消的同時,持續和亞洲及全球用戶分享旗下半導體測試最新技術實例和第一手資訊。

愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies表示:「我們很期待舉辦屬於自己的虛擬商展,透過新的線上溝通方式,向顧客傳遞最新測試解決方案相關資訊,並開啟與我們的技術專家直接互動的管道。」
 
虛擬展示間
此次愛德萬測試線上活動安排虛擬展示間,呈現公司多元廣泛的端到端解決方案,聚焦5G、汽車電子與記憶體等最先進的應用。預計在虛擬展示間亮相的解決方案包括有:愛德萬測試V93000 Wave Scale™ RF8卡,針對作業頻率達8GHz之5G-NR收發器及其他連線IC;用於測試車用系統單晶片 (SoC) 的T2000系列,能提升平行測試能力、降低測試成本;還有更多愛德萬測試旗下領先業界的記憶體測試解決方案,包括最新H5620 、MPT3000和T5503HS2系列。
 
除了針對應用的測試解決方案外,愛德萬測試亦將展示旗下最新自動化解決方案,涵蓋了測試分類機和自動化軟體工具;還有設計驗證解決方案,包含CX1000系列,提供高成本效益的隨選測試解決方案。
 
即時串流發表
愛德萬測試技術專家將於線上即時串流時段,為與會者介紹最新半導體測試技術及最佳實踐案例,每場活動都會開放問答。以下為線上發表議程:
7月10日 (星期五)
台灣時間 上午10:10
致歡迎詞與開場介紹 (英語致詞)
愛德萬測試全球行銷傳播副總Judy Davies
 
台灣時間 上午10:25
在匯流時代下解決從5G到AI的SoC測試挑戰 (中文簡報)
(Addressing SoC Test Challenges from 5G to AI in the Age of Convergence)
愛德萬測試中國測試專家Daniel Sun
 
台灣時間 上午11:15
次世代DDIC、CIS與PMIC最佳整合性解決方案
(Best Integrated Solution for Next-Generation DDIC, CIS and PMIC) (中文簡報)
愛德萬測試中國應用工程師Steven Wang
 
台灣時間 下午1:00
端到端完整記憶體測試解決方案 (End-to-End Full Memory Test Solutions) (中文簡報)
愛德萬測試中國MTS應用工程師Albert Chen
 
報名方式
請前往下列網址報名參加本線上活動並取得登入指示: https://advantest.6connex.com/event/advantestvirtualevent/asiatradeshow/login
 
社群媒體
掌握測試解決方案領導者最新動態,請上Twitter追蹤 @Advantest_ATE。

關於愛德萬測試
愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商,旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外,愛德萬測試亦投入研發,解決接踵而來的測試挑戰應用,並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年於成立於東京的愛德萬測試,是在全世界都設有據點的國際企業,更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站:www.advantest.com
 
 

 

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