邁入第二個璀璨十年 愛德萬測試年度VOICE開發者大會樹立新標竿
前言：
第11屆大會圓滿落幕 論文篇數、科技互動站規模與贊助商數量皆創新高
2017年8月17日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 甫於5月落幕的第11屆VOICE 2017開發者大會，於今年邁入第二個十年，共計113場技術發表會、2場夥伴博覽會、29座科技互動站，更為半導體測試產業人士創造眾多交流機會。今年的大會於美、中兩地舉行，分別是5月16至17日的加州棕櫚泉場次，和5月26日的上海場次，也是大會第二度於上海舉辦。兩場大會共計超過450人共襄盛舉，其中半數以上為愛德萬測試的客戶和合作夥伴。
今年的大會在美國棕櫚泉與上海場次分別舉行88場和25場技術發表會，並各有四成五和六成的論文由愛德萬測試的客戶撰文或並列共同作者。總體而言，於VOICE 2017大會發表技術論文的企業共有22間，來自全球12個國家。所有論文皆須經過技術委員會審查，在委員組成中，愛德萬測試的客戶共計41位，來自19間企業。
VOICE的成功須歸功於愛德萬測試及客戶推派代表組成之指導委員會的統籌規劃，以及贊助商的支持。今年贊助企業規模達25家，創下歷史新高，其中10家為新的贊助商。SEMI、Global Semiconductor Alliance (GSA) 、VLSIresearch、IC Insights和IHS等相關夥伴亦皆於2017年再次力挺VOICE大會。
最佳論文獎
每年的VOICE大會都由與會者票選出最佳技術論文。今年大會響應節能減碳減少紙張使用，所有投票作業與意見回饋皆改於行動App上操作。美國場次的獲獎者為來自愛德萬測試的Edwin Lowery、Shiyang Deng與Aether Lee，發表論文「SmarTest 8技術中的儀器同步：從RF到MX再到DC和數位」(Instrument Synchronization in SmarTest 8: RF to MX to DC to Digital)；中國場次則由來自恩智浦 (NXP) 的Zhaoyang Wang與來自愛德萬測試的共同作者Lydia Jiang、Kai Kang、Qiannan Ren和Peng Wang獲此殊榮，發表論文「以V93000平台測試汽車安全氣囊系統」(Testing Automotive Airbag System Devices on the V93000)。
每年的VOICE大會都由與會者票選出最佳技術論文。今年大會響應節能減碳減少紙張使用，所有投票作業與意見回饋皆改於行動App上操作。美國場次的獲獎者為來自愛德萬測試的Edwin Lowery、Shiyang Deng與Aether Lee，發表論文「SmarTest 8技術中的儀器同步：從RF到MX再到DC和數位」(Instrument Synchronization in SmarTest 8: RF to MX to DC to Digital)；中國場次則由來自恩智浦 (NXP) 的Zhaoyang Wang與來自愛德萬測試的共同作者Lydia Jiang、Kai Kang、Qiannan Ren和Peng Wang獲此殊榮，發表論文「以V93000平台測試汽車安全氣囊系統」(Testing Automotive Airbag System Devices on the V93000)。
一張圖了解今年大會精彩亮點，請見VOICE 2017 資訊圖表。
關於VOICE開發者大會
VOICE大會係由愛德萬測試及其客戶推派代表組成之指導委員會統籌管理，是愛德萬測試為旗下T2000與V93000系統單晶片測試平台、記憶體測試機、分類機與測試機解決方案不斷成長的使用者及策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。VOICE大會為業界攜手促進半導體測試作業創新發展並提升效率及成本效益的一大良機，與會者可藉此機會獲取並交流寶貴意見，建立長期合作關係，並進一步了解愛德萬測試的測試設備、分類機產品及各類應用，掌握不侷限於特定設備的技術趨勢。
VOICE大會係由愛德萬測試及其客戶推派代表組成之指導委員會統籌管理，是愛德萬測試為旗下T2000與V93000系統單晶片測試平台、記憶體測試機、分類機與測試機解決方案不斷成長的使用者及策略合作夥伴國際社群所籌辦的重要會議。VOICE大會為業界攜手促進半導體測試作業創新發展並提升效率及成本效益的一大良機，與會者可藉此機會獲取並交流寶貴意見，建立長期合作關係，並進一步了解愛德萬測試的測試設備、分類機產品及各類應用，掌握不侷限於特定設備的技術趨勢。
關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
