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愛德萬測試在8月8-10日於加州聖克拉拉快閃記憶體高峰會隆重推出最新固態硬碟測試機並發表技術論文

本文作者:愛德萬       點擊: 2017-08-11 08:01
前言:
2017年8月7日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (TSE:6857) 將在8月8日至10日,於加州聖克拉拉會議中心 (Convention Center) 舉行的今年度快閃記憶體高峰會 (Flash Memory Summit) 上,展示旗下MPT3000系列固態硬碟 (SSD) 測試解決方案的最新測試機,並發表兩篇技術論文。愛德萬測試為2017年峰會的翡翠級贊助商。
 
產品展示
愛德萬測試將在第606至608號攤位展示旗下MPT3000平台新推出的兩款最新解決方案,為原本便已支援的SSD協定與規格再添生力軍。最新的MPT3000HES採用與MPT3000全系列相同的硬體、軟體、熱性能與介面,但是配置更精巧,專為「完全複製」(copy exactly) 工程與較小規模的應用而設計。此外,新的Smart Power解決方案是針對內建自我測試電路 (BIST) 需求推出的超低成本選項,可應用於生產測試,其低速串列介面可與協定測試達到最佳協同作用。

愛德萬測試亦將於攤位上透過數位螢幕和筆記型電腦展示經濟實惠的T5851測試機,該機台是專為通用快閃儲存 (UFS) 裝置和PCle BGA記憶體而設計。此系統同樣採用MPT3000產品家族已通過驗證之測試架構。
 
論文發表
愛德萬測試技術專家將於本屆峰會上探討測試議題的201-C議程中,發表兩篇技術論文,演講時間訂於8月9日 (三) 上午8:30。愛德萬測試的Vishal Devadiya將以「為SSD品質認證測試做好準備」(Preparing SSDs for Qualification Testing) 為題發表演說;而Ben Rogel Favila則會和與會貴賓討論「專為SSD測試最佳化所設計的可擴展平台」(A Scalable Platform for Optimal SSD Test)。
 
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
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