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Anritsu 安立知提升 VectorStar® VNA 性能,以滿足 5G 及資料中心雲端系統的高速資料傳輸率需求

本文作者:Anritsu 安立知       點擊: 2017-06-14 08:01
前言:
新的去嵌入功能可實現更精準的高頻 DUT 效能驗證
Anritsu 安立知為其 VectorStar® 向量網路分析儀 (VNA) 推出通用夾具提取 (Universal Fixture Extraction,UFX) 選項,提供訊號完整性及 on-wafer 工程師更廣泛的 on-wafer 及夾具校準選擇,即使是在不具備全套校準標準時亦能使用。專為滿足 4G 及新興 5G 系統、以及回程網路及資料中心之高頻、高數據速率需求相關的設計挑戰,UFX 具備獨特的分析工具,使工程師可以更準確、更有效地進行評估設計。
 


配置 UFX 的 VectorStar VNA 可為訊號完整性及 on-wafer 工程師提供多重優勢。該 VNA 解決方案經由強化測試夾具去嵌入來強化模型精度,進而提升首次產能,因此可加速上市時程。同時,亦提供工程師開發具備競爭優勢的高速資料吞吐量產品之能力。

完全校正的測試夾具校準技術要求夾具傳輸路徑兩端需具備一套完整的校準標準。在無法取得完整校準標準之環境中,傳統的方法是假設夾具的兩個路徑是完全對稱並具備完美的匹配,但由於這是非典型的方法,因此使用先前的技術將導致大量的去嵌入錯誤。UFX選項提供了先進的去嵌入工具,使工程師能隨著標準可用性的提高逐步增加校準標準和特徵數據,以提高夾具提取準確度。

為協助分析在測試夾具中的隔離缺陷,UFX 亦內含定序剝離 (Sequential Peeling) 功能。訊號完整性工程師可根據相位函數匹配,在夾具的某個部分 (例如常見的傳輸部分) 產生 .sNp 檔。該功能提供了更詳細的夾具資訊,進而可以更輕鬆地改良測試夾具設計。

UFX 進一步擴展了 VectorStar 領先業界的功能,以進行 on-wafer 元件特性描述,以及高速資料傳輸的測量。Anritsu 安立知卓越的 VNA 產品線 – VectorStar 採用獲得專利的 NLTL 技術,能提供單一儀器 70 kHz 到 145 GHz 的最廣覆蓋率。該系列 VNA 提供研發工程師所需的效能水準,以準確且可靠地建模高頻元件,並驗證最先進的設計,同時可在確保精度的情況下達到最高處理能力。
  
關於 Anritsu
Anritsu 集團創建於 1895 年,目前是國際上最主要的量測儀器製造商之一。全球總部設於日本厚木市,研發單位及製造工廠位於日本、美國、英國及丹麥等,Anritsu 產品包括無線通訊測試、微波射頻元件測試、數據通信測試、光元件特性測試等,其測試系統在行動通訊領域,更具國際領先地位。Anritsu 產品包括:頻譜分析儀、網路分析儀、訊號產生器、無線通訊綜合測試儀、通訊協定分析儀、藍牙測試儀、數據品質分析儀、光時域反射儀及各類手持式分析儀,產品跨及商用、民生、國防領域。Anritsu 還提供精密微波/RF 元件、光學元件、通訊系統的高速電子元件。Anritsu 的辦事處遍佈全世界,在 90 多個國家銷售產品,擁有大約 4,000 名員工。

安立知股份有限公司為 Anritsu (安立知) 集團在台灣之分支機構。除台北總公司外,在新竹亦設有服務據點,為客戶提供產品、技術應用及售後服務等全方位服務。

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