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愛德萬測試將在2月8至10日於首爾SEMICON展示最新產品、示範操作,並發表技術論文

本文作者:愛德萬       點擊: 2017-02-06 11:26
前言:
測試設備領導者愛德萬將透過實際操作以及數位圖像說明,展示各式SoC 與記憶體系統測試解決方案
2017年2月1日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試(Advantest)將於2017年韓國國際半導體展SEMICON Korea展示多項測試解決方案,展期即將在2月8~10日於首爾COEX會展中心盛大登場。愛德萬測試同時也是2月8日晚間歡迎晚宴的白金級贊助商。

愛德萬測試將在位於C展館的第1612號攤位,展示專為韓國市場設計的最新測試解決方案,和已經過嚴謹測試的產品。主打產品與服務包括領先業界的測試與測量平台、能有效提升效能的模組和通道卡、電子束光刻與計量掃描式電子顯微鏡(Metrology-SEM)系統、性能測試用基板、燒機測試基板和探針卡。

與會貴賓將可透過現場展示、數位圖像以及深入的演講內容,進一步了解愛德萬測試的技術內涵,以及最新發表的創新IC測試技術。
韓國愛德萬測試SoC部門主任Jeongseob Kim亦將在2月9日(四)為時半天的測試論壇上,發表「於ATE系統測試IoT模組之挑戰」(The Challenges of Testing IoT Modules on ATE Systems)技術論文。發表時間為下午2:00,地點在COEX會展中心會議室(南)318室,歡迎業界先進前往指教。
 
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
www.advantest.com

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