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愛德萬測試T5851測試機台榮獲快閃記憶體高峰會「最佳參展項目獎」

本文作者:愛德萬       點擊: 2016-09-08 08:05
前言:
具彈性、高生產力的T5851系統獲峰會肯定為最創新快閃記憶體技術
2016年9月7日--半導體測試領導廠商愛德萬測試T5851測試機台,於8月9日至11日舉行的加州聖克拉拉第11屆年度快閃記憶體高峰會(Flash Memory Summit;FMS),勇奪快閃記憶體與固態儲存產業最高榮譽的「最佳參展項目獎」(Best of Show Award)。

愛德萬測試T5851系統在快閃記憶體高峰會「最創新快閃記憶體技術」(Most Innovative Flash Memory Technology)評鑑類別深獲肯定,為半導體測試帶來革命性的突破,有助業者藉由快閃記憶體測試,進一步提升電子產品的效能、可用度、耐用度甚至能源效率。T5851系統提供單一多協定工具,針對高效能通用快閃儲存(UFS)裝置與PCIe BGA固態硬碟(Solid-State Drive;SSD)做測試,大幅降低客戶的資本投資與部署風險。此外,T5851採用 Tester-per-DUT架構與專利硬體加速器,成就業界最短的測試時間,進而減少測試成本。

T5851專為NAND裝置的大量測試、可靠性測試與品質測試而設計,且系統具彈性,若搭配自動元件分類機如愛德萬測試M6242系統,則最高可平行測試768個裝置。

愛德萬測試執行董事山田弘益表示:「愛德萬測試為非揮發性記憶體市場帶來的創新突破,對於低功率的行動應用至為關鍵,而我們的努力能受到業界肯定肯定,敝公司深感榮幸。T5851系統在設計上瞄準了這類裝置在系統級測試上的需求,同時又能兼顧市場對於可靠性、成本控制和大量生產的期待。」

快閃記憶體高峰會大獎計畫主席Jay Kramer表示:「新興消費性電子產品採用快閃儲存技術已成趨勢,市場快速拓展,而業界能否提供可擴張的快閃記憶體測試平台將成為一大挑戰。我們很榮幸地將『最佳參展項目技術創新獎』(Best of Show Technology Innovation Award)頒發給愛德萬測試T5851系統,該系統適用於廣泛的測試方案環境,無論是生產模型還是工程模型皆可應用;而其多元性也獲得肯定,舉凡智慧型手機、平板電腦、超輕薄可攜式筆電的記憶體IC皆可測試。」
 
快閃記憶體高峰會簡介
由Conference ConCepts承辦的快閃記憶體高峰會,匯聚了非揮發性記憶體與SSD價值百億的市場背後,最主流的應用、最關鍵的技術以及最重要的領導廠商。企業儲存應用以及智慧型手機、平板電腦、行動與嵌入式系統採用快閃記憶體的需求愈來愈高,快閃記憶體高峰會是目前業界規模最大的世界級盛會,提供業者窺見趨勢、了解創新技術以及接觸意見領袖的最佳平台。

關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商,專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外,該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術的發展,積極開發新興市場,近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡,以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立,並在1982年於美國成立第一家子公司,迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站
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