2013年11月13日--安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣布出版《X參數:非線性射頻與微波元件之特性分析、建模與設計》,該書闡述了安捷倫突破性的非線性X參數量測、建模和模擬技術。該書由劍橋大學出版社出版,書中提供多個應用範例,是深入介紹X參數理論的權威指南。
《X參數:非線性射頻與微波元件之特性分析、建模與設計》一書由David E. Root、Jan Verspecht、Jason Horn和Mihai Marcu等多位安捷倫科學家與工程師合著。他們是X參數理論的原創發明人和開發者。此一強大理論已被廣泛應用於非線性射頻與微波元件和系統。同時,該書作者也是業界和學界公認的建模、模擬和量測科學領域的權威專家。
該書為X參數技術奠定了基礎,並透過實際案例為讀者提供實用的概算方法,藉以大幅降低非線性元件和系統的量測、建模和設計複雜度。書中並清楚講解如何利用X參數解決非線性射頻與微波工程中錯綜複雜的問題。
此外,本書還提供實際案例分析、標準符號和表示法的定義、詳細推導(參見附錄)、練習題及解答。如此完整詳實的內容,讓為那些希望了解射頻與微波工程學最新發展趨勢的研究人員、工程師、科學家和學生,能夠獲得專業而權威的參考。
安捷倫科技小檔案
安捷倫科技(NYSE:A)是全球首屈一指的量測公司,在通訊、電子、生命科學及化學分析技術領域領先全球。安捷倫科技的員工總數約為20,500人,服務的客戶遍佈全球100多個國家。2012會計年度,安捷倫科技的營收達69億美元。有關安捷倫科技更詳細的資訊,可查詢www.agilent.com網站。
* X參數為安捷倫科技的商標。X參數格式與底層公式均對外公開並有文件記錄。更多關於商標使用的資訊,請參考X參數開放文件、商標使用及合作方式說明。