2013年6月25日--半導體測試設備領導者愛德萬測試的全新T5831系統已開始向客戶出貨。此套系統主要應用於新一代行動裝置應用IC (包括搭載高速ONFi或Toggle Mode介面的NAND快閃記憶體) 與Managed NAND裝置 (如嵌入式多媒體記憶卡 (eMMC))，且具備多項功能，可支援並行同測多晶片封裝 (MCP) 中的NAND快閃記憶體和行動DRAM記憶體。
T5831是專為高速平行同測所設計，提供客戶低成本測試功能，亦能在未來隨需升級，延伸投資報酬，堪稱業界最經濟測試解決方案。其附隨的工程解決方案T5831 ES，最適用於測試程式開發與元件特性分析，可讓客戶加快整體上市時間。
此套系統提供了許多專為NAND快閃記憶體所設計的重要功能，能以業界最快速度完成測試，此系統的Tester-Per-Site™架構不僅可創造高產能，更能提供每裝置業界最高電流，加速程式設計和抹除作業；此外，亦能即時執行錯誤更正碼 (ECC) 分析，避免增加後處理測試時間成本。
相較於傳統的後處理方式，即時源同步 (source-synchronous) 功能可獲得最大產率並提高產能。此系統會自動執行逐週期 (cycle-by-cycle) 調整，以了解製程、電壓、溫度 (PVT) 與抖動之間的差異所造成的時序漂移，確保資料眼 (data-eye) 的正確性，以在高速下產生最佳產率。其他支援功能還包括：壞塊管理、冗餘分析和自訂/隨機資料產生，這意味著T5831可全方位滿足NAND快閃記憶體所有測試需求。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示：「這套全新測試解決方案採用模組化設計提供現今客戶所需效能，且同時具備可擴充性，可讓客戶因應未來瞬息萬變的測試需求。T5831不但以全方位自動測試設備效能，創造業界最低測試成本，同時也透過提供軟體相容性，讓愛德萬測試全球安裝數量高達9,000多套測試系統的客戶群將風險降至最低。」
關於愛德萬測試 (Advantest Corporation)
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
