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愛德萬測試推出最新T5835記憶體測試機瞄準具高速介面之先進DRAM與NAND快閃記憶體

本文作者：愛德萬點擊： 2021-12-02 10:18

前言：

T5800系列產品最新力作　測試速度倍增至5.4Gbps 既實現高產能又降低測試成本

2021年11月30日--半導體測試設備領導供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) (TSE: 6857) 宣布，旗下業界第一的T5800產品系列新推出經濟實惠、高同測數記憶體測試機。最新T5835系統具備5.4Gbps作業速度及大量同測能力，針對現階段與次世代DRAM核心及高速NAND記憶體提供多元廣泛的測試解決方案。

綜觀市場趨勢，隨著揮發性與非揮發性記憶體IC的介面速度持續加快，原先中等速度的DRAM核心最終測試速度也持續增加，並在可靠度、測試覆蓋率和成本效益之間達到最佳平衡。現今高速元件在進行NAND記憶體測試時的介面速度可能超過2 Gbps，預料即將問世的非揮發性記憶體測試速度甚至將超過4 Gbps。對IC製造商而言，理想的測試解決方案除了要能跟上日益提高的性能要求，還要維持或改善整體測試成本。

最新T5835系統對任何運作速度高達5.4 Gbps的記憶體IC都具備完整測試功能，包含各新世代記憶體，如NAND快閃記憶體、雙倍資料率 (DDR) 與低功率雙倍資料率 (LPDDR) DRAM晶片都能滿足測試需求。此外，T5835系統內建專門的硬體功能，使其能實現領先業界的高產能要求、降低測試成本，針對最終封裝級測試更能同時處理768個元件。

T5835系統功能包括DRAM已知良品 (KGD) 晶圓級測試，針對先進行動記憶體強化的可編程設計電源供應 (PPS)，以及即時DQS vs. DQ功能藉以提升良率。

T5835的設計是基於模組強化的T5800系列平台，能使晶圓測試與最終測試的可擴充性、彈性與效能達到最佳化。這套系統可以設置為研發環境使用的工程機，也能配備小、中或大型測試頭，投入線上生產測試。

T5835系統設置都承襲愛德萬測試現有的記憶體測試系統，並搭載Future Suite作業系統，提供客戶具延續性的測試程式相容性。這些特點讓使用者得以從前代T5800系列無縫接軌，同時又能兼顧生產效率。

愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁鈴木雅之表示：「具備高性能、多元功能的最新T5835系統，不僅是T5800系列最高等級新作，也是目前業界最優秀的記憶體測試機。T5800產品家族早已是市場認可的全球標準，最新推出的T5835測試機亦將延續一貫優異傳統。」

首批T5835系統預計於今年底前出貨給關鍵客戶。

關於愛德萬測試

愛德萬測試 (TSE: 6857) 是自動化測試與測量設備領導製造商，旗下產品用於5G通訊、物聯網 (IoT)、自駕車、人工智慧 (AI)、機器學習、智慧醫療裝置等應用所需之半導體的設計和生產。現今全球最先進的半導體生產線均採用愛德萬測試領先業界的系統與產品。此外，愛德萬測試亦投入研發，解決接踵而來的測試挑戰應用，並生產光罩製造最重要的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。1954年成立於東京的愛德萬測試，是在全世界都設有據點的國際企業，更對跨國永續生產與企業社會責任作出承諾。進一步資訊請上公司網站：www.advantest.com。

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