2016年7月11日--NI 國家儀器 (Nasdaq: NATI) 身為平台式系統供應商，可協助工程師與科學家解決全球最艱鉅的工程挑戰，並於近日推出 NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU) 提供 10 fA 的量測靈敏度與高達 200 V 的電壓輸出。透過 NI PXI SMU 的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率，工程師可使用 NI PXIe-4135 SMU 量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用。
「我們的行內參數測試必須擷取數百萬個資料點，過程中常會產生數微微安培的洩漏電流，」IMEC 研究員 Bart De Wachter 博士如此表示。 「新款 NI PXI SMU 可準確量測這些低電流訊號，並同時享有 PXI 平台的快速除錯與 LabVIEW 提供的系統設計彈性。」
工程師可透過模組化 NI PXI SMU 打造體積精巧、平行的多通道數系統，並享有多達 68 個 SMU 通道的單一 PXI 機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。 此外，使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術，藉此提高測試輸出率並客制微調任何待測裝置的 SMU 響應。 使用者也可以運用軟體控制 SMU 響應，不僅可縮短 SMU 趨穩作業漫長的等待時間，還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪，即使是高電容負載也一樣。
「半導體裝置越來越複雜，我們必須重新思考傳統的研究方法、特性測試與穩定度量測，這也正是我們投資 SMU PXI 的主要原因。」NI 自動化測試總監 Luke Schreier 如此表示。 「NI SMU 不僅可降低測試時間、增加通道密度，現在還能提供 10 fA 靈敏度、更優良的量測品質。」
NI PXI SMU 使用互動式軟體人機介面執行基本量測並為自動化應用除錯，其操作的簡易程度是箱型 SMU 無法達成的。 此驅動程式提供輔助檔案、文件與立即可用的範例程式，藉以協助測試程式碼的開發，另外還提供程式設計介面，可搭配 C、Microsoft .NET 與 LabVIEW 系統設計軟體等多種開發環境。 工程師也可使用 NI PXI SMU 搭配 NI TestStand 測試管理軟體，藉此簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與佈署。
「我們的行內參數測試必須擷取數百萬個資料點，過程中常會產生數微微安培的洩漏電流，」IMEC 研究員 Bart De Wachter 博士如此表示。 「新款 NI PXI SMU 可準確量測這些低電流訊號，並同時享有 PXI 平台的快速除錯與 LabVIEW 提供的系統設計彈性。」
工程師可透過模組化 NI PXI SMU 打造體積精巧、平行的多通道數系統，並享有多達 68 個 SMU 通道的單一 PXI 機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。 此外，使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術，藉此提高測試輸出率並客制微調任何待測裝置的 SMU 響應。 使用者也可以運用軟體控制 SMU 響應，不僅可縮短 SMU 趨穩作業漫長的等待時間，還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪，即使是高電容負載也一樣。
「半導體裝置越來越複雜，我們必須重新思考傳統的研究方法、特性測試與穩定度量測，這也正是我們投資 SMU PXI 的主要原因。」NI 自動化測試總監 Luke Schreier 如此表示。 「NI SMU 不僅可降低測試時間、增加通道密度，現在還能提供 10 fA 靈敏度、更優良的量測品質。」
NI PXI SMU 使用互動式軟體人機介面執行基本量測並為自動化應用除錯，其操作的簡易程度是箱型 SMU 無法達成的。 此驅動程式提供輔助檔案、文件與立即可用的範例程式，藉以協助測試程式碼的開發，另外還提供程式設計介面，可搭配 C、Microsoft .NET 與 LabVIEW 系統設計軟體等多種開發環境。 工程師也可使用 NI PXI SMU 搭配 NI TestStand 測試管理軟體，藉此簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與佈署。
【關於NI國家儀器】
自 1976 年以來，NI 便提供靈活強大的技術系統，藉此提高生產力並加速創新，進一步協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰。NI 的客戶來自各行各業，包含醫療、汽車、消費型電子、粒子物理等等，他們採用 NI 的整合式軟硬體平台，努力改善我們的世界。
自 1976 年以來，NI 便提供靈活強大的技術系統，藉此提高生產力並加速創新，進一步協助工程師和科學家克服世界上最艱鉅的工程挑戰。NI 的客戶來自各行各業，包含醫療、汽車、消費型電子、粒子物理等等，他們採用 NI 的整合式軟硬體平台，努力改善我們的世界。
