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IMEC發佈橫向與垂直無接面環繞式極匣FET電晶體裝置

本文作者:IMEC       點擊: 2016-06-16 12:23
前言:
新一代的GAA-NWFET是先進邏輯和類比/射頻應用與SRAM記憶單元有潛力的新
2016年6月15日--在今天2016年的VLSI技術與電路研討會上,IMEC奈米電子研究中心展示了橫向與垂直配置下的無接面環繞式極匣(GAA)奈米線(NW)FET電晶體裝置。運用在先進邏輯、低功率電路以及類比/射頻的應用上,程序更簡單,具有更高的可靠性、更小的低頻噪音和IOFF值,是個令人怦然心動的選擇。此外,經由堆疊垂直裝置,使大量的SRAM能以更短的路徑縮放。)
 
在GAA-NFET外部,極匣環繞而完整包覆,擁有極佳的靜電控制能力。因此,大家視GAA-NWFETs為最能實現5奈米級CMOS的最佳選擇。不僅是個不需要接面的無接面裝置,還能提供更好的簡化程序。
 
在之前2015年的VLSI技術與電路研討會和國際電子元件會議上,這些裝置就已經展現出卓越且可靠的技術,尤其適應低功率電路狀況使其更具發展潛力。在今天的座談會上,IMEC充分講解了用來操作無接面裝置的控制關鍵。發現就是透過控制NW參雜程度與上NW大小的對比,以達到最佳化的效果。研究過這些裝置在類比/RF應用上的可行性,發現和反式NWFET相比,在相似的速度與相當的電壓增益下,在類比/RF上的應用比較可行。
 
IMEC也處理了無接面GAA-NWFET的變異特性。儘管NMOS裝置的VT的不匹配會隨著奈米線參雜升高而升高,對PMOS裝置及更小尺寸的奈米線上,產生的影響卻相對較小。
 
此外,該無接面的概念被運用在整合於同為300mm的矽質基板的垂直裝置上,此基板也能搭載橫向裝置。透過大範圍的垂直奈米線陣列,可以得到低IOFF 及IG值與良好靜電效果。
 
最後,為了善加利用無接面裝置的程序簡化特點,IMEC提出一種新的SRAM單元設計。此設計垂直堆疊了兩個參雜程度相同的無接面垂直NWFET,得以藉此降低39%的SRAM每位元面積,更進一步探索更大的可能性。
 
「IMEC的成果對深入理解無接面GAA-NWFET有了非凡的貢獻。」IMEC的邏輯裝置與積體電路總監Dan Mocuta表示:「我們全面的講解點亮了橫向與垂直無接面奈米線裝置,超越5nm邏輯裝置的精湛表現。此外,無接面裝置也表現出成為類比/RF應用上的可行選項,儘管堆疊的無接面NWFET能顯著的減少SEAM的面積。」
 
IMEC能夠成功研究出先進邏輯微縮的技術,有賴於core CMOS計畫的關鍵合作夥伴的一同努力。這些夥伴包含Global Foundries、Intel(因特爾)、Micron、SK Hynix、Samsung(三星)、TSMC(台積電)、Huawei(華為)、Qualcomm以及Sony(索尼)。
 
關於 imec
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