2013年6月5日--愛德萬測試公司（ADVANTEST，TSE: 6857, NYSE: ATE）宣佈已經開發成功太赫茲（Terahertz, 既兆兆赫茲）光譜及成像分析平臺，成為已有的太赫茲波非侵入性分析設備系列中最新的成員。新產品通過把太赫茲光源和檢測器分離成獨立模組並以光纖與主機聯接，使得被測區域可以任意靈活佈置，極大的擴大了應用範圍。這一新的實驗裝備，必將大大促進太赫茲領域的研究開發。本產品將於2013年10月份正式發貨。
新平臺拓廣太赫茲研究領域
太赫茲技術是在測量和分析方面的前沿技術，在各種應用領域都吸引到關注和投資。因為物質對太赫茲波段不同頻率呈現不同的反射或吸收特性，非常適用於光譜分析和非侵入性成像應用。愛德萬測試公司於2010年4月首次推出其太赫茲分析系統 – TAS7000三維成像分析系統，目前在太赫茲應用上處於業界領先地位，已有針對不同市場的非侵入性分析系統，如藥物分析產品。
同時，最先進的研究結合了太赫茲分析技術和其他實驗設備如液氦低溫保持器（Cryostat）及加熱器，用於開發新材料和物理分析。實驗室要求測量設備高精度同時易於使用，愛德萬測試公司的新太赫茲光譜及成像分析平臺滿足了這些要求，幫助研發人員達到高精度、高效率。
通過把太赫茲光源和檢測分離成獨立模組並以光纖與主機聯接，使得被測區域可以任意靈活佈置。這一平臺也可以與其他實驗設備相連，支援利用在應用太赫茲的更廣泛的研究項目。
* 太赫茲頻段為電磁波譜中0.1至10THz範圍。
配置及主要特性
新平臺包括一個太赫茲光抽祥系統，三個太赫茲光源模組及一個檢測器模組。
TAS7500TS 太赫茲光抽祥系統
TAS7500TS是桌面儀器大小的工具，包括雷射脈衝生成和信號分析功能，基於愛德萬測試獨立研發高速掃描技術（每次掃描1毫秒）。而且，相位調製雙同步鐳射可以實現差分測量。
* 基本配置包括單太赫茲脈衝生成，雙脈衝功能是選配件。
TAS1110、TAS1120、TAS1130 太赫茲光源模組
TAS1230太赫茲檢測器模組
光源模組把雷射脈衝轉換成太赫茲波。三個頻段各有一個獨立模組：TAS1110用於0.1～4THz頻段（標準規格）, TAS1120用於0.03～2THz頻段（低頻帶規格), TAS1130用於 for 0.5～7THz頻段（超寬頻規格）, TAS1130具有極高的頻寬覆蓋和光譜平坦性。
檢測器模組對樣品反射或通過的波束進行採樣。每個模組都通過1.5米長的光纖與TAS7500TS相連，無需複雜的調試，便於配合樣品靈活的放置。
關於愛德萬測試
愛德萬測試擁有世界一流技術，是全球半導體自動測試設備（ATE）的領先供應商和計測設備的主要供應商。其尖端產品被廣泛應用於世界範圍內最先進的半導體生產線。愛德萬測試同時關注並研究新興市場的發展，這些新興市場的發展得益于納米技術和太赫茲技術的進步。最近，愛德萬測試還推出了光掩膜的關鍵設備之一多視角電子掃描顯微鏡和適用於製藥和交通運輸行業的3 D影像分析系統。愛德萬測試1954年成立于東京，並在1982年在美國成立了第一個子公司，現在愛德萬測試在全球各地都擁有子公司。更多信息，请访问公司网站www.advantest.co.jp.
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