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惠瑞捷V6000快閃記憶體及DRAM測試平台獲獎肯定

本文作者:admin       點擊: 2009-05-21 00:00
前言:
全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出,可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體,大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段,包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。

惠瑞捷記憶體事業部副總裁Gayn Erickson表示:「Frost & Sullivan的獲獎肯定了我們前瞻性的創新能力,而這項能力同時也是半導體製造商長久以來追求的目標。V6000系統只需一半的腳位測試成本便可提供四倍的並行測試能力,單次觸壓 (one-touchdown) 即可進行針測。它具備的多功能與可擴充性可讓客戶僅需更換新的測試程式與探針卡 (probe card) 或是測試載板 (load board),即能在單一測試系統上切換測試NAND或NOR快閃記憶體、DRAM以及多晶片記憶體。V6000測試系統的高度彈性可大幅減少客戶的資本設備支出,進而使客戶能因應市場變化而迅速調整不同記憶體的產量。」

Frost & Sullivan 產業經理 Sujan Sami指出:「在經濟景氣低迷時,具備提供客戶創新的半導體測試設備能力是至關重要的。V6000測試系統不僅能偵測缺陷,更能協助測試元件的修復與改善,而這樣的應用彈性也已引起記憶體製造商的共鳴。惠瑞捷發展V6000這套革命性的系統將可持續擴充,大幅延長了客戶投資設備的使用期限。V6000證明了惠瑞捷在技術與財務創新方面的能力,我們很樂於授予惠瑞捷此一殊榮。」

每年榮獲Frost & Sullivan年度產品創新獎的公司都是不斷地在產品與技術上推陳出新,展現其領先業界的新產品與技術。這項獎項的評選是由Frost & Sullivan分析團隊透過訪談、廣泛參考二手資料與技術研究結果,追蹤研究新上市產品、研發支出、開發中產品以及新產品特色與改良,選出Frost & Sullivan年度產品創新獎的得獎者。Frost & Sullivan分析團隊先以產品技術的創新程度與客戶滿意度為基礎,評比各家公司推出的新產品與開發中產品,再以新上市產品以及開發中產品數量做出公司排名,評比重點包括產品在業界的整體重要性、競爭優勢、市場接受度、應用技術的獨特性與革命性等。

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