ASIC 設計服務暨 IP 研發銷售領導廠商 ─智原科技（Faraday Technology,）宣佈，其以聯電 90奈米製程所設計之SATA 3G解決方案通過SATA-IO相容性測試，此產品亦是業界首顆在此製程中通過相容認證的IP晶片，此外，智原也因此成為全球第二個列入SATA-IO建構清單（SATA-IO's Building Block Listing）的IP供應商。符合相容性測試的SATA解決方案有助於確保交互使用性(interoperability)，並可縮短客戶產品的上市時間，為智原科技在高速傳輸界面立下另一里程碑。
從2008年開始，全球的內接式磁碟當中，有將近98%是採用SATA介面，已成為儲存應用領域中的主流標準，也讓相容性測試愈顯重要性。但回溯到數年前SATA 3G首次揭櫫時，相容性測試的要求不但被視為過度保守、且會抑制SATA的發展。而當線路板雜訊隨著系統時脈及介面頻寬不斷上升、SATA訊號電氣特性的大幅減損、以及因同步切換雜訊(Simultaneous Switching Noise，SSN)而造成timing margins縮短等狀況逐漸出現時，才讓業界體認到相容性測試的重要性，也奠定其為確保交互使用性上不可或缺的關鍵要素。
智原科技策略長王國雍指出：「智原科技在高速輸出入介面的技術研發上，始終領先同業。包括先前發表的PCIe Gen II、USB 3.0以及現今推出的SATA等，而這些輸出入技術的相容性測試與通過相關認證也都是我們內部致力完成的目標，以確保客戶未來產品的交互使用性。目前符合相容標準的90奈米 PCIe-Gen II以及SATA 3G，已可對外供應，而USB 3.0預計將於年底推出。智原先後推出這一系列完整且具高效價比的解決方案，預計將加速推動相關應用市場的起步與蓬勃發展。」
SATA-IO規範對於主要的電氣參數表現要求相當嚴格，像是發射端抖動(jitter)、發射端升/降時間平衡(tx rise/ fall time balance)、接收端抖動容許度 (rx jitter tolerance)、以及回波損失(return loss)等，而其中某些參數彼此的牽制影響，使得設計更形複雜與困難。智原的設計團隊採用新開發出的低抖動鎖相迴路(PLL)，並同時改善時脈資料還原(clock-data recovery，CDR)電路，以突破這些設計上的難題。此外，3Gb/s的CDR使用半速架構(half-rate architecture)與3倍超取樣相位偵測器(3x-oversampling phase detector)，以符合SATA抖動容許遮罩值(SATA jitter tolerance mask)。
智原科技研發處長曾玉光表示：「通過SATA相容性測試一向是IP供應商的重要目標。智原能夠通過這項測試，不僅是對智原高速輸出入技術設計能力的肯定，也實現了我們向來對客戶提供性能優越解決方案的承諾。」
供貨時程
智原已可對外供應的SATA產品包含：
- 90奈米及0.13微米 SATA 1.5G/ 3G實體層
- SATA 主端控制器
- SATA 裝置端控制器
關於智原提供之設計方案與矽智財 IP 產品，請參閱智原科技網站 : www.faraday-tech.com
從2008年開始，全球的內接式磁碟當中，有將近98%是採用SATA介面，已成為儲存應用領域中的主流標準，也讓相容性測試愈顯重要性。但回溯到數年前SATA 3G首次揭櫫時，相容性測試的要求不但被視為過度保守、且會抑制SATA的發展。而當線路板雜訊隨著系統時脈及介面頻寬不斷上升、SATA訊號電氣特性的大幅減損、以及因同步切換雜訊(Simultaneous Switching Noise，SSN)而造成timing margins縮短等狀況逐漸出現時，才讓業界體認到相容性測試的重要性，也奠定其為確保交互使用性上不可或缺的關鍵要素。
智原科技策略長王國雍指出：「智原科技在高速輸出入介面的技術研發上，始終領先同業。包括先前發表的PCIe Gen II、USB 3.0以及現今推出的SATA等，而這些輸出入技術的相容性測試與通過相關認證也都是我們內部致力完成的目標，以確保客戶未來產品的交互使用性。目前符合相容標準的90奈米 PCIe-Gen II以及SATA 3G，已可對外供應，而USB 3.0預計將於年底推出。智原先後推出這一系列完整且具高效價比的解決方案，預計將加速推動相關應用市場的起步與蓬勃發展。」
SATA-IO規範對於主要的電氣參數表現要求相當嚴格，像是發射端抖動(jitter)、發射端升/降時間平衡(tx rise/ fall time balance)、接收端抖動容許度 (rx jitter tolerance)、以及回波損失(return loss)等，而其中某些參數彼此的牽制影響，使得設計更形複雜與困難。智原的設計團隊採用新開發出的低抖動鎖相迴路(PLL)，並同時改善時脈資料還原(clock-data recovery，CDR)電路，以突破這些設計上的難題。此外，3Gb/s的CDR使用半速架構(half-rate architecture)與3倍超取樣相位偵測器(3x-oversampling phase detector)，以符合SATA抖動容許遮罩值(SATA jitter tolerance mask)。
智原科技研發處長曾玉光表示：「通過SATA相容性測試一向是IP供應商的重要目標。智原能夠通過這項測試，不僅是對智原高速輸出入技術設計能力的肯定，也實現了我們向來對客戶提供性能優越解決方案的承諾。」
供貨時程
智原已可對外供應的SATA產品包含：
- 90奈米及0.13微米 SATA 1.5G/ 3G實體層
- SATA 主端控制器
- SATA 裝置端控制器
關於智原提供之設計方案與矽智財 IP 產品，請參閱智原科技網站 : www.faraday-tech.com
