愛德萬測試攜固態硬碟測試解決方案參加8月11-13日矽谷快閃記憶體高峰會
前言：
除實機展示外，並發表SSD開發環境到量產環境之測試議題論文
2015年7月30日--半導體測試設備領導者愛德萬測試將於8月11-13日加州矽谷聖克拉拉舉行的第十屆年度快閃記憶體高峰會上展示旗下先進固態硬碟 (SSD) 測試解決方案MPT3000系列產品，同時發表相關技術論文。愛德萬測試為本屆翡翠級贊助商。
現場展示MPT3000系列主要產品
愛德萬測試將在8月12-13日聖克拉拉會議中心B展館 (攤位號碼 #606-608) 展示專為加速SSD產品開發、縮短產品上市時程所設計、採彈性架構、可支援多種協定的MPT3000平台。
愛德萬測試將在8月12-13日聖克拉拉會議中心B展館 (攤位號碼 #606-608) 展示專為加速SSD產品開發、縮短產品上市時程所設計、採彈性架構、可支援多種協定的MPT3000平台。
MPT3000ENV採模組化設計，以tester-per-DUT為架構，無論PCIe NVMe、SAS 12G或是SATA SSD，任何尺寸大小，均能在溫控箱中進行效能與壓力並行同測，待測物總消耗功率可達6.4kW。其靈活的彈性設計可為客戶打造足以因應SSD市場變化的競爭優勢。
另一系列產品MPT3000ES工程工作站，採用與MPT3000ENV相同的高效能電子軟硬體，體積規格更小，可廣泛應用於多種SSD產品的分析與除錯，讓元件製造商在單一測試平台上就能創造多元商機。屆時現場將展示MPT3000ES多協定測試元件的實際操作。
論文發表
除現場產品展示外，愛德萬測試行銷經理Scott Filler也將在F-21論壇中發表SSD測試相關論文，探討SSD測試成本議題。論壇舉行時間為8月12日上午8:30，地點為聖克拉拉會議中心的Great America Ballroom J。
除現場產品展示外，愛德萬測試行銷經理Scott Filler也將在F-21論壇中發表SSD測試相關論文，探討SSD測試成本議題。論壇舉行時間為8月12日上午8:30，地點為聖克拉拉會議中心的Great America Ballroom J。
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關於愛德萬測試
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
愛德萬測試是世界知名的半導體自動測試設備領導供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供首屈一指量測設備。現今全球最先進半導體生產線均採用該公司領先業界的系統與產品。此外，該公司亦深耕奈米和太赫茲 (terahertz) 技術之發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。該公司在1954年於東京成立，並在1982年於美國成立第一家子公司，迄今子公司遍佈全球。進一步資訊請至公司網站www.advantest.com。
