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NI舉辦 十合一 RF 綜合測試技術應用研討會

本文作者:NI       點擊: 2012-07-05 15:26
前言:
一次解決所有高頻量測問題

2012年7月5日---三十多年來,NI 持續深耕軟體定義測試系統,以軟體與硬體完美整合的架構,在無線射頻領域提供綜合高頻測試系統,協助解決生產測試所遇到的各種問題。而伴隨著無線通訊規格不斷的向前邁進,在產品測試端隨之而來的是與日俱增的壓力及工作量,所有業界從業人員皆在尋求一個完整、簡單、輕鬆提升生產力的解決方案!

 

此次研討會現場, NI 與合作的晶片廠商攜手展示整合後的實際成果,包括如何應用於無線網路 802.11 a/b/g/n/ac 與手機 GSM/WCDMA/LTE 的校正與測試。同時,我們也邀請業界最具整合經驗的合作夥伴分享相關經驗,含括了無線網路產品測試系統的建置,以及利用機械手臂、射頻隔離箱建構測試系統。

 

而 NI 更準備了無線網路產品量測,與手機校正與量測等 RF 解決方案,和業界精英一同共享建構綜合測試系統的概念與趨勢!從改善成本昂貴的高頻測試儀器著手,重新定義高頻量測的規則!NI 邀請您一起參與此次活動,共同提升工作上的生產效率、降低設備成本支出,達到快速、彈性、精確的 RF/無線測試。

 

【活動場次】

         2012/7/25 () 台北國泰金融中心 A

 

【報名方式】凡報名出席本活動,將有機會獲得 Creative ZiiSOUND D5 藍芽無線喇叭!(價值 10,900 )

        電話報名 : 02-2377-2222  #5555

        Email報名 : info.taiwan@ni.com

        網路報名:http://bit.ly/NucCq9

 

       有關  NI  美商國家儀器

 

1976 以來,NI (www.ni.com) 就針對產能、創新、開發等作業,持續提供高效率的工具。NI 圖形化系統設計 (GSD) 為軟、硬體的整合平台,可加速開發任何量測與控制系統。公司放眼於客戶、員工、股東、供應商的成功,以科技支援並改善目前的社會環境。

 

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